Система контроля поверхностей ZEISS ABIS II

Система ZEISS ABIS II создана для контроля поверхностей автокомпонентов, кузовов и деталей из листового металла. Система встраивается как в периодические плановые автономные проверки, так и в автоматизированный конвеерный контроль деталей в конце производственной кузнечно-прессовой линии. Система производит объективную оценку вмятин, трещин, задиров, сужений, волнистости и т.п при анализе как небольших кузовных частей, так и сложных автомобильных кузовов.

Снижение затрат за счет своевременного выявления дефектов

ZEISS ABIS II выявляет нарушения качества поверхности на превых этапах производства и предотвращает экономические потери из-за устранения дефектов на последних этапах производства деталей, а также снижает объем вторичной чистовой обработки изделий. Оптимизируя производственный процесс, система ZEISS ABIS II значительно снижает стоимость производства, обеспечивает экономию ресурсов и высокое качество выпускаемых изделий.

Сверхточный контроль

Благодаря настройкам системы под индивидуальные потребности производства обеспечивается сверхточный контроль поверхности вне зависимости от условий эксплуатации. ABIS II использует как готовые для интеграции решения, так и модификации для сложных задач и высокотехнологичного производства.

Быстрая и простая настройка

Система имеет удобный интерфейс и понятный функционал. Для настройки оператору требуется только выбрать необходимую деталь в специальном программном обеспечении. Все дополнительные настройки происходят при помощи простой в использовании программы ABIS-TeachIn. Далее процесс полностью автоматизирован.