Главная›Каталог›Спектроскопия›Настольный XRF EDX2000A Автоматический анализатор толщины микропленки EDX Спектрометр
Настольный XRF EDX2000A Автоматический анализатор толщины микропленки EDX Спектрометр
Производитель: Drawell
Цена по запросу
• Измеряемое покрытие: 3Li~92U • Определение элементов: 13AI~92U • Одновременный анализ до 24 элементов и 5+ покрытий • Содержание: 0.1%--99.99%.