Hitachi · Япония

Электронный микроскоп SEM SU8230

🇯🇵 Япония

1100

◌ На заказ

Сканирующий электронный микроскоп холодного поля. Разрешение 0,6 нм.

🔬 Исследования⚙️ Металлургия

Характеристики

Тип прибора	Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)
Источник электронов	Холоднокатодная полевая эмиссия (CFE)
Разрешение	0,6 нм (15 кВ), 1,0 нм (1 кВ)
Ускоряющее напряжение	0,1 – 30 кВ
Детекторы	SE (верхний + нижний), BSE, EDS (опция)
Увеличение	×20 – ×2 000 000
Камера образцов	Ø 200 мм, 5-осевой моторизованный столик
Вакуум	10⁻⁸ Па (холодный катод)
ПО	Hitachi SEM Control, автоматическая настройка

Описание

Hitachi SU8230 — сканирующий электронный микроскоп с холодно-полевой эмиссией, обеспечивающий рекордное разрешение 0,6 нм при 15 кВ. Прибор оснащён системой коррекции хроматических аберраций и деселерационным режимом для анализа чувствительных к пучку материалов при сверхнизких ускоряющих напряжениях.

Ключевые преимущества

Разрешение 0,6 нм — визуализация наноструктур с предельной детализацией
Холодно-полевая эмиссия — стабильный ток без термического воздействия на образец
Деселерация 10 В – 30 кВ — анализ полимеров, биологических тканей, катализаторов
Одновременная съёмка SE + BSE — топография и элементный контраст
Автоматическая юстировка — минимальное время на подготовку прибора

Области применения

Полупроводниковая промышленность, наноматериалы и нанотехнологии, исследование катализаторов, геология (минералогия), биомедицинские исследования, судебная экспертиза.

📩 Отправить запрос по товару

✅ Запрос отправлен! Мы свяжемся с вами в ближайшее время.